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Schichtdicken-Messgerät
eisenhaltige Substrate
nicht eisenhaltige Substrate
0 - 1000 µm
Werksstandard (ohne Zertifikat)
(L x B x H) 25 x 21 x 5.3 cm
750 g
LCD
0.1 µm
3 %
1 St.
1000 µm
0 µm
Ultraschall
Wirbelstrom
21 cm
5.3 cm
25 cm
LCD
Ja
Datenblatt 756150 Sauter TB 1000-0.1FN Schichtdicken-Messgerät 0 - 1000 µm
Bedienungs- und Sicherheitshinweise 756150 Sauter TB 1000-0.1FN Schichtdicken-Messgerät 0 - 1000 µm
Information 756150 Sauter TB 1000-0.1FN Schichtdicken-Messgerät 0 - 1000 µm